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OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7series1000

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OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7series600

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OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7 series 300

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OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7series

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OTSUKA大冢-動畫特性測量裝置MR-2000

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OTSUKA大冢-動畫特性測量裝置MPRT-2000

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OTSUKA大冢-高靈敏度分光放射光度計HS-1000

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OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器GC-1

GC-1 OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器實現(xiàn)真正的黑屏！把黑色的差異數(shù)值化。 OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器GC-1OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器GC-1OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器GC-1
OTSUKA大冢-單元間隙檢查設備RETS series

RETS series OTSUKA大冢-單元間隙檢查設備從反射型·透射型的液晶封入單元到彩色過濾空單元的廣泛對應 OTSUKA大冢-單元間隙檢查設備RETS seriesOTSUKA大冢-單元間隙檢查設備RETS series
OTSUKA大冢-濾色器分光特性測量裝置LCF series

LCF series OTSUKA大冢-濾色器分光特性測量裝置 OTSUKA大冢-濾色器分光特性測量裝置LCF seriesOTSUKA大冢-濾色器分光特性測量裝置LCF seriesOTSUKA大冢-濾色器分光特性測量裝置LCF series
OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統(tǒng)

OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統(tǒng) 熒光體1粒子的熒光特性可以測定的高靈敏度系統(tǒng)。 1從粒子的取出到測量的系統(tǒng)化。可以測量10μm的粒子。支持恒溫到600°C的溫度依賴性測量 OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統(tǒng)OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統(tǒng)OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統(tǒng)
OTSUKA大冢-高靈敏度NIR量子效率測定系統(tǒng)QE-5000

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OTSUKA大冢-在線熒光體薄膜檢測系統(tǒng)DF-1000

DF-1000 OTSUKA大冢-在線熒光體薄膜檢測系統(tǒng) 快速測量透過熒光的面內(nèi)色度分布 OTSUKA大冢-在線熒光體薄膜檢測系統(tǒng)DF-1000OTSUKA大冢-在線熒光體薄膜檢測系統(tǒng)DF-1000OTSUKA大冢-在線熒光體薄膜檢測系統(tǒng)DF-1000
OTSUKA大冢-量子效率測量系統(tǒng)QE-2100

QE-2100 OTSUKA大冢-量子效率測量系統(tǒng) OTSUKA大冢-量子效率測量系統(tǒng)QE-2100OTSUKA大冢-量子效率測量系統(tǒng)QE-2100OTSUKA大冢-量子效率測量系統(tǒng)QE-2100
OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)QE-2000

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OTSUKA大冢-高速LED光學特性監(jiān)視器LE series

LE series OTSUKA大冢-高速LED光學特性監(jiān)視器是能夠使LED的光學特性評價與生產(chǎn)線的控制信號同步，在線內(nèi)高速進行的裝置。 LE-5400提供NG判定和等級分類等質(zhì)量管理所必需的光學特性信息。OTSUKA大冢-高速LED光學特性監(jiān)視器LE seriesOTSUKA大冢-高速LED光學特性監(jiān)視器LE seriesOTSUKA大冢-高速LED光學特性監(jiān)視器LE series

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